인텍플러스, 평판 패널 검사벙법 美 특허취득

[뉴스토마토 최병호기자] 인텍플러스(064290)는 '평판 패널 검사방법'에 관한 미국 특허를 6일자로 취득했다고 8일 공시했다. 

 

회사 측은 "본 발명은 평판 패널을 검사하는 방법에 관한 것으로, 박막트랜지스터의 전극라인과 신호라인의 선폭 또는 패턴 간격 등의 치수를 측정하여 불량 여부를 검사하는 것"이라며 "당사 외관검사장비의 경쟁력 강화에 활용할 계획"이라고 말했다.

 

최병호 기자 [e-mail]